Titre : | TEST DE CIRCUIT ET DE SYSTEMES INTEGRES |
Auteurs : | Christian LANDRAULT, Éditeur scientifique |
Type de document : | ouvrage |
Editeur : | HERMES SCIENCE, 2004 |
Collection : | EGEM ELECTRONIQUE GENIE ELECTRIQUE MICROSYSTEMES |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7462-0864-3 |
Catégories : |
Exemplaires (2)
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Détenteur | Equipe du détenteur |
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080316 | DRAGOMERESCU D | PAPIER | Equipe ou service | MINC | Contacter le détenteur Exclu du prêt | MINC | |
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